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簡要描述:傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰(zhàn)。光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | Enlitech | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 | 偏置電壓 | 由20V~1000V |
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰(zhàn)。如:
1.偏置電壓無法超過 12V:傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器,其承受直流電壓無法過大,因此在一般的量子效率測試儀,電偏壓無法施加超過 12V。
2.無法做噪聲頻率分析。
3.無法直接測得 NEP 與 D*。
光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE。
PD-QE 系統(tǒng)是光焱科技在過去十年的小光斑 (power mode) 基礎(chǔ)上,進(jìn)化開發(fā)完成。
PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析 擁有以下幾點(diǎn)特色:
*可應(yīng)用在 PV 的 EQE 量子效率測試、新型光傳感器的研究。
*在全新的軟件平臺 SW-XQE 上,具有便捷的擴(kuò)展性:可測試標(biāo)準(zhǔn) EQE 外,更可整合多種 SMU 的控制,并量測IV曲線。同時(shí)具備各種分析功能,如 D*、NEP、頻率噪聲圖。
*PD-QE 有不同的模塊,偏置電壓也可由 20 V 到 1000 V。同時(shí),可測量高分辨率的光電流,分辨率最高可達(dá) 10-16 A。
*波長擴(kuò)充可達(dá) 1800 nm。
*可選配軟件升級控制 Kiethley 4200 SMU。
PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析可用于:
*有機(jī)光傳感器 (OPD, Organic Photodiode)
*鈣鈦礦光傳感器 (PPD, Perovskite Photodiode)
*量子點(diǎn)光傳感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)
*新型材料光傳感器
# NEP/D*
PD-QE可直接針對器進(jìn)進(jìn)行頻率噪聲的測量與作圖。
# EQE 光譜
PD-QE 可以進(jìn)行 EQE 光譜測試。除了標(biāo)準(zhǔn)的 300nm ~ 1100nm 波段,PD-QE 可擴(kuò)展到 1800nm。圖中顯示不同波長響應(yīng)器件,在 PD-QE 系統(tǒng)下,測的 EQE 量子效率光譜。
# 整合多種SMU控制進(jìn)行IV曲線測試
PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產(chǎn)的多種 SMU,進(jìn)行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線,并進(jìn)行多圖顯示。
#噪聲電流頻譜圖
PD-QE 憑借*進(jìn)數(shù)字訊號采集與處理技術(shù),直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進(jìn)行測種測試!并且軟件可以進(jìn)行多種頻段的特性分析,如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。
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