產品簡介

光焱科技REPS Voc損耗分析儀可以檢測極低的 EL-EQE 信號（低至 10-5%，即 7 個數量級），還可以計算熱力學 Voc、輻射復合 Voc 和非輻射復合 Voc（通過其軟件SQ-VLA）。此外，也可以在一個柱狀圖中分析不同類型設備之間的ΔE1、ΔE2和ΔE3損耗。重要的是，分析軟件可以幫助用戶將計算出的Voc-loss與設備IV曲線的真實Voc-loss進行匹配，從而促進研究進展和期刊發表。

特色

*它可以測量：absolute EL-EQE、EL spectra(V)、JV curve、EQE-J。

*該軟件可以顯示的圖表包括：EL-EQE(J)、EL-EQE(V) 、multi-EL-spectra、 JVL曲線、ΔE1、 ΔE2、和ΔE3直方圖。

*該系統可以計算和分析熱力學Voc、輻射復合Voc和非輻射復合Voc。

*波長檢測范圍：300~1100納米；并可擴展到1700納米（選項）。

* NIST-traceable absolute radiometric calibration（瓦特，從300~1100納米）。

*EL-EQE檢測范圍：10^-5%到極大值（動態范圍7階）。

*EL-EQE un-repeatability<1%。

*EL-EQE un-reproducibility<1.5%。

*EL低光檢測SN比：>50:1 @5×10^-5%（REPS Pro）。

*Glove Box 整合工具包。

*客制的測試夾具。

規格

REPS系統另有進階類型(REPS Pro)，其規格比較如下：

應用范圍

光焱科技REPS Voc損耗分析儀可用于：

– 改善OPV的Voc-loss

– 改善鈣鈦礦 Voc-loss

– 電荷傳輸狀態識別